{"product_id":"高速数字接口与光电测试-全面覆盖通信-计算机-数据中心前沿高速数字和光电互联技术-高速测试专家20年行业经验荟萃","title":"高速数字接口与光电测试（全面覆盖通信、计算机、数据中心前沿高速数字和光电互联技术 ? 高速测试专家20年行业经验荟萃","description":"\u003cdiv id=\"feature\" class=\"section\"\u003e\n\u003cdiv class=\"title\"\u003e\u003cstrong\u003e产品特色\u003c\/strong\u003e\u003c\/div\u003e\n\u003cdiv class=\"descrip\"\u003e\n\u003cspan id=\"feature-all\"\u003e\u003c\/span\u003e\n\u003cp\u003e\u003cimg src=\"http:\/\/img59.ddimg.cn\/99999990381216099.jpg\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003c\/div\u003e\n\u003c\/div\u003e\n\u003cdiv id=\"abstract\" class=\"section\"\u003e\n\u003cdiv class=\"title\"\u003e\u003cspan\u003e编辑推荐\u003c\/span\u003e\u003c\/div\u003e\n\u003cdiv class=\"descrip\"\u003e\n\u003cspan id=\"abstract-all\"\u003e\u003c\/span\u003e\n\u003cp\u003e（1）全面覆盖通信、计算机、数据中心前沿高速数字和光电互联技术。\u003cbr\u003e（2）高速测试专家20年行业经验荟萃。\u003cbr\u003e（3）《高速数字接口原理与测试指南》的升级版。（4）深入浅出，阐述高速数字与光电通信概念\u003cbr\u003e（5）追本溯源，探究测试方法与测量原理精髓。\u003cbr\u003e（6）图文并茂，剖析行业热点与前沿应用技术。\u003cbr\u003e（7）娓娓道来，洞察光电互联与产业发展趋势。\u003c\/p\u003e\n\u003cstrong\u003e \u003c\/strong\u003e\u003cstrong\u003e内容简介\u003c\/strong\u003e\n\u003c\/div\u003e\n\u003c\/div\u003e\n\u003cdiv id=\"content\" class=\"section\"\u003e\n\u003cdiv class=\"descrip\"\u003e\n\u003cspan id=\"content-all\"\u003e\u003c\/span\u003e\n\u003cp\u003e本书结合笔者多年从业经验，从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解，同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中**的接口技术，对其标准演变、测试方法等做了详细介绍，以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。 本书可供从事服务器、交换机、移动终端、光模块、光通信设备、高速数字芯片、高速光电器件的研发和测试人员了解学习高速数字、光电互联的相关技术及测试方法，也可供高校电子信息类专业的师生做数字电路、信号完整性、光通信技术、光电器件方面的教学参考。\u003c\/p\u003e\n\u003c\/div\u003e\n\u003c\/div\u003e\n\u003cdiv id=\"authorIntroduction\" class=\"section\"\u003e\n\u003cdiv class=\"title\"\u003e\u003cstrong\u003e作者简介\u003c\/strong\u003e\u003c\/div\u003e\n\u003cdiv class=\"descrip\"\u003e\n\u003cspan id=\"authorIntroduction-all\"\u003e\u003c\/span\u003e\n\u003cp\u003e李凯，资深技术顾问与高速测试技术专家，毕业于北京理工大学光电工程系，硕士学位。在通信及电子测量行业有20多年从业经验，现任是德公司技术支持经理、高速光通信及AI测试技术负责人。中国电子学会高级会员、ODCC开放数据中心协会专家、IMT-2020 5G承载标准协会成员，参与《400G光模块技术白皮书》《AI服务器技术白皮书》《5G承载光模块白皮书》等多个行业标准的编写和讨论。著有《高速数字接口原理与测试指南》《现代示波器高级应用》。在《国外电子测量技术》《中国集成电路》《通信世界》等专业杂志发表几十篇关于高速信号测量原理、测量方法的文章，并在IEEE、EDI-CON、人工智能与半导体国际论坛、光纤在线、讯石光通信、硅光论坛等行业会议上进行过上百次专业演讲。\u003c\/p\u003e\n\u003c\/div\u003e\n\u003c\/div\u003e\n\u003cdiv id=\"catalog\" class=\"section\"\u003e\n\u003cdiv class=\"title\"\u003e\u003cstrong\u003e目　　录\u003c\/strong\u003e\u003c\/div\u003e\n\u003cdiv class=\"descrip\"\u003e\n\u003cp\u003e第1章数字信号基础\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e什么是数字信号（Digital Signal）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数字信号的上升时间（Rising Time）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数字信号的带宽（Bandwidth）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数字信号的建立\/保持时间（Setup\/Hold Time）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e并行总线与串行总线（Parallel and Serial Bus）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e单端信号与差分信号（Singleend and Differential Signals）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数字信号的时钟分配（Clock Distribution）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e串行总线的8b\/10b编码（8b\/10b Encoding）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e伪随机码型（PRBS）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e传输线的影响（Transmission Line Effects）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数字信号的预加重（Preemphasis）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数字信号的均衡（Equalization）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数字信号的抖动（Jitter）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e扩频时钟（SSC）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e链路均衡协商（Link Equalization Negotiation）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePAM信号（Pulse Amplitude Modulation）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第2章数字测试基础\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数字信号的波形分析（Waveform Analysis）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数字信号的眼图分析（Eye Diagram Analysis）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e眼图的参数测量（Eye Diagram Measurement）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e眼图的模板测试（Mask Test）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数字信号的抖动分析（Jitter Analysis）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数字信号的抖动分解（Jitter Separation）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e串行数据的时钟恢复（Clock Recovery）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e抖动测量本底（Jitter Measurement Floor）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e相位噪声测量（Phase Noise Measurement）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePAM4信号测试（PAM4 Signal Measurement）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e特征阻抗（Characteristic Impedance） \u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eTDR测试（Time Domain Reflectometer）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e传输线的建模（Transmission Line Modelling）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e \u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e \u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cbr\u003e第3章USB简介与物理层测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eUSB总线简介\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eUSB3.x发送端信号质量测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eUSB3.x的测试码型和LFPS信号\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eTypeC接口与PD测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eUSB3.x的接收端容限测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eUSB4.0简介\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eUSB4.0的发送端信号质量测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eUSB4.0的接收容限测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eUSB电缆\/连接器测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第4章PCIe 简介与物理层测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePCIe背景概述\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePCIe4.0的物理层技术\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePCIe4.0的测试项目\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePCIe4.0的测试夹具和测试码型\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePCIe4.0的发射机质量测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePCIe4.0的接收端容限测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePCIe5.0物理层技术\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePCIe5.0发送端信号质量及LinkEQ测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePCIe5.0接收端容限测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePCIe6.0技术展望\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第5章DDR简介与信号和协议测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eDDR\/LPDDR简介\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eDDR的信号仿真验证\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eDDR的读写信号分离\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eDDR的信号探测技术\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eDDR4\/5与LPDDR4\/5的信号质量测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eDDR5的接收端容限测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eDDR4\/5的协议测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第6章HDMI\/DP简介与物理层测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eHDMI\/DP显示接口简介\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eHDMI物理层简介\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eHDMI2.1物理层测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eDP物理层简介\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eDP2.0物理层测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第7章Ethernet简介与物理层测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e以太网技术简介\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e10M\/100M\/1000M以太网测试项目\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e10M\/100M\/1000M以太网的测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e10GBaseT\/MGBaseT\/NBaseT的测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e10G SFP 接口简介及测试方法\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e车载以太网简介及物理层测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第8章高速背板性能的验证\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e高速背板简介及测试需求\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e背板的频域参数和阻抗测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e背板传输眼图和误码率测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e插卡信号质量的测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e高速背板测试总结\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第9章高性能AI芯片的接口发展及测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eAI计算芯片的特点\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eAI芯片高速接口的发展趋势\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eDDR\/GDDR\/HBM高速存储总线\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003ePCIe\/CCIX\/CXL互联接口\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eNVLink\/OpenCAPI互联接口\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eGenZ互联接口\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e以太网\/InfiniBand网络接口\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e高性能 AI芯片的接口及电源测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第10章光纤技术简介\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光纤（Optical Fiber）简介\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e多模光纤（MultiMode Fiber）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e单模光纤（SingleMode Fiber）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e保偏光纤（PM Fiber）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光纤连接器（Fiber Connector）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光纤的模场直径(MFD)\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第11章光通信关键技术\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光模块简介（Optical Transceiver）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光信号的调制（Optical Modulation）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光发射和接收组件（TOSA\/ROSA）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光通信光源（LED\/VCSEL\/FB\/DFB）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光调制器（DML\/EML\/MZM）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光探测器（PN\/PIN\/APD）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光模块的封装类型（Formfactor）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e硅光技术（Silicon Photonic）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e板上光模块与光电合封（COBO\/Copackage）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光纤链路的功率裕量（Loss Budget）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e前向纠错（FEC）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eI\/Q调制（I\/Q Modulation）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光接口速率的发展（Data Rate Increasing）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第12章光复用技术\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e并行多模(Parallel Multimode)\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e并行单模(Parallel Single Mode)\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e粗波分(CWDM)\/细波分(LanWDM)复用\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e密集波分复用（DWDM）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e多模波分复用(SWDM)\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e波长复用\/解复用（Mux\/DeMux）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e单纤双向(BiDi)\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e偏振复用(PDM)\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第13章光信号测试基础\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e中心波长（Center Wavelength）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e平均光功率（Average Optical Power）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e消光比（ER）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光调制幅度（OMA\/OMAouter）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e眼图模板（Eye Mask）和命中率（Hit Ratio）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eJ2\/J9抖动（J2\/J9 Jitter）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eVECP（Vertical Eye Closure Penalty）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eTDP（Transmitter Dispersion Penalty）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eTDECQ（Transmitter Dispersion and Eye Closure Quaternary）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eTDECQ的测量（TDECQ Measurement）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eTDECQ测量算法（TDECQ Algorithm）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光压力眼（Optical Stress Eye）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e光接收机压力测试（ORST）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e矢量调制误差（Error Vector Magnitude）\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第14章数据中心光互联技术\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数据中心网络的结构\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数据中心内部的网络连接\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e数据中心之间的互联\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第15章100G光模块简介及测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e100G光模块简介\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eCEI28GVSR测试点及测试夹具\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eCEI28GVSR输出端信号质量测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eCEI28GVSR输入端压力容限测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e100G光模块的光信号测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第16章400G以太网简介及物理层测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e400G以太网物理层\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e400G光模块类型\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e400G电气测试环境\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e400G的电口测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e400G的光口测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eFEC下的流量测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第17章800G以太网的挑战与测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e800G光互联技术的发展\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e800G以太网的电口技术挑战\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e800G以太网的光口技术挑战\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e112Gbps电口发送\/接收测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e224Gbps电信号产生\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e224Gbps光电器件测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e224Gbps光口信号测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e224Gbps误码率测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e800G以太网光电接口测试总结\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第18章5G承载网光模块测试挑战\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e5G承载网络的架构变化\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e5G承载网的带宽需求\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e5G承载网新型前传技术\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e5G光模块种类\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e5G光模块测试方案\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e常见问题与建议\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第19章高速光电器件与硅光测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e高速光电器件的发展\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e无源光器件测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e有源器件直流参数测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e有源器件高频参数测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e硅光芯片的晶圆测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e器件封装后的系统测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e高速光电测试平台总结\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e第20章相干光通信简介及测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e相干光通信简介\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e相干发射机与接收机\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e相干调制器及ICR测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e相干发射机系统测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e相干接收机系统测试\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e相干通信的发展方向\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e \u003c\/p\u003e\n\u003cspan 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