产品特色

编辑推荐

(1)全面覆盖通信、计算机、数据中心前沿高速数字和光电互联技术。
(2)高速测试专家20年行业经验荟萃。
(3)《高速数字接口原理与测试指南》的升级版。(4)深入浅出,阐述高速数字与光电通信概念
(5)追本溯源,探究测试方法与测量原理精髓。
(6)图文并茂,剖析行业热点与前沿应用技术。
(7)娓娓道来,洞察光电互联与产业发展趋势。

 内容简介

本书结合笔者多年从业经验,从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解,同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中**的接口技术,对其标准演变、测试方法等做了详细介绍,以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。 本书可供从事服务器、交换机、移动终端、光模块、光通信设备、高速数字芯片、高速光电器件的研发和测试人员了解学习高速数字、光电互联的相关技术及测试方法,也可供高校电子信息类专业的师生做数字电路、信号完整性、光通信技术、光电器件方面的教学参考。

作者简介

李凯,资深技术顾问与高速测试技术专家,毕业于北京理工大学光电工程系,硕士学位。在通信及电子测量行业有20多年从业经验,现任是德公司技术支持经理、高速光通信及AI测试技术负责人。中国电子学会高级会员、ODCC开放数据中心协会专家、IMT-2020 5G承载标准协会成员,参与《400G光模块技术白皮书》《AI服务器技术白皮书》《5G承载光模块白皮书》等多个行业标准的编写和讨论。著有《高速数字接口原理与测试指南》《现代示波器高级应用》。在《国外电子测量技术》《中国集成电路》《通信世界》等专业杂志发表几十篇关于高速信号测量原理、测量方法的文章,并在IEEE、EDI-CON、人工智能与半导体国际论坛、光纤在线、讯石光通信、硅光论坛等行业会议上进行过上百次专业演讲。

目  录

第1章数字信号基础

什么是数字信号(Digital Signal)

数字信号的上升时间(Rising Time)

数字信号的带宽(Bandwidth)

数字信号的建立/保持时间(Setup/Hold Time)

并行总线与串行总线(Parallel and Serial Bus)

单端信号与差分信号(Singleend and Differential Signals)

数字信号的时钟分配(Clock Distribution)

串行总线的8b/10b编码(8b/10b Encoding)

伪随机码型(PRBS)

传输线的影响(Transmission Line Effects)

数字信号的预加重(Preemphasis)

数字信号的均衡(Equalization)

数字信号的抖动(Jitter)

扩频时钟(SSC)

链路均衡协商(Link Equalization Negotiation)

PAM信号(Pulse Amplitude Modulation)

第2章数字测试基础

数字信号的波形分析(Waveform Analysis)

数字信号的眼图分析(Eye Diagram Analysis)

眼图的参数测量(Eye Diagram Measurement)

眼图的模板测试(Mask Test)

数字信号的抖动分析(Jitter Analysis)

数字信号的抖动分解(Jitter Separation)

串行数据的时钟恢复(Clock Recovery)

抖动测量本底(Jitter Measurement Floor)

相位噪声测量(Phase Noise Measurement)

PAM4信号测试(PAM4 Signal Measurement)

特征阻抗(Characteristic Impedance) 

TDR测试(Time Domain Reflectometer)

传输线的建模(Transmission Line Modelling)

 

 


第3章USB简介与物理层测试

USB总线简介

USB3.x发送端信号质量测试

USB3.x的测试码型和LFPS信号

TypeC接口与PD测试

USB3.x的接收端容限测试

USB4.0简介

USB4.0的发送端信号质量测试

USB4.0的接收容限测试

USB电缆/连接器测试

第4章PCIe 简介与物理层测试

PCIe背景概述

PCIe4.0的物理层技术

PCIe4.0的测试项目

PCIe4.0的测试夹具和测试码型

PCIe4.0的发射机质量测试

PCIe4.0的接收端容限测试

PCIe5.0物理层技术

PCIe5.0发送端信号质量及LinkEQ测试

PCIe5.0接收端容限测试

PCIe6.0技术展望

第5章DDR简介与信号和协议测试

DDR/LPDDR简介

DDR的信号仿真验证

DDR的读写信号分离

DDR的信号探测技术

DDR4/5与LPDDR4/5的信号质量测试

DDR5的接收端容限测试

DDR4/5的协议测试

第6章HDMI/DP简介与物理层测试

HDMI/DP显示接口简介

HDMI物理层简介

HDMI2.1物理层测试

DP物理层简介

DP2.0物理层测试

第7章Ethernet简介与物理层测试

以太网技术简介

10M/100M/1000M以太网测试项目

10M/100M/1000M以太网的测试

10GBaseT/MGBaseT/NBaseT的测试

10G SFP 接口简介及测试方法

车载以太网简介及物理层测试

第8章高速背板性能的验证

高速背板简介及测试需求

背板的频域参数和阻抗测试

背板传输眼图和误码率测试

插卡信号质量的测试

高速背板测试总结

第9章高性能AI芯片的接口发展及测试

AI计算芯片的特点

AI芯片高速接口的发展趋势

DDR/GDDR/HBM高速存储总线

PCIe/CCIX/CXL互联接口

NVLink/OpenCAPI互联接口

GenZ互联接口

以太网/InfiniBand网络接口

高性能 AI芯片的接口及电源测试

第10章光纤技术简介

光纤(Optical Fiber)简介

多模光纤(MultiMode Fiber)

单模光纤(SingleMode Fiber)

保偏光纤(PM Fiber)

光纤连接器(Fiber Connector)

光纤的模场直径(MFD)

第11章光通信关键技术

光模块简介(Optical Transceiver)

光信号的调制(Optical Modulation)

光发射和接收组件(TOSA/ROSA)

光通信光源(LED/VCSEL/FB/DFB)

光调制器(DML/EML/MZM)

光探测器(PN/PIN/APD)

光模块的封装类型(Formfactor)

硅光技术(Silicon Photonic)

板上光模块与光电合封(COBO/Copackage)

光纤链路的功率裕量(Loss Budget)

前向纠错(FEC)

I/Q调制(I/Q Modulation)

光接口速率的发展(Data Rate Increasing)

第12章光复用技术

并行多模(Parallel Multimode)

并行单模(Parallel Single Mode)

粗波分(CWDM)/细波分(LanWDM)复用

密集波分复用(DWDM)

多模波分复用(SWDM)

波长复用/解复用(Mux/DeMux)

单纤双向(BiDi)

偏振复用(PDM)

第13章光信号测试基础

中心波长(Center Wavelength)

平均光功率(Average Optical Power)

消光比(ER)

光调制幅度(OMA/OMAouter)

眼图模板(Eye Mask)和命中率(Hit Ratio)

J2/J9抖动(J2/J9 Jitter)

VECP(Vertical Eye Closure Penalty)

TDP(Transmitter Dispersion Penalty)

TDECQ(Transmitter Dispersion and Eye Closure Quaternary)

TDECQ的测量(TDECQ Measurement)

TDECQ测量算法(TDECQ Algorithm)

光压力眼(Optical Stress Eye)

光接收机压力测试(ORST)

矢量调制误差(Error Vector Magnitude)

第14章数据中心光互联技术

数据中心网络的结构

数据中心内部的网络连接

数据中心之间的互联

第15章100G光模块简介及测试

100G光模块简介

CEI28GVSR测试点及测试夹具

CEI28GVSR输出端信号质量测试

CEI28GVSR输入端压力容限测试

100G光模块的光信号测试

第16章400G以太网简介及物理层测试

400G以太网物理层

400G光模块类型

400G电气测试环境

400G的电口测试

400G的光口测试

FEC下的流量测试

第17章800G以太网的挑战与测试

800G光互联技术的发展

800G以太网的电口技术挑战

800G以太网的光口技术挑战

112Gbps电口发送/接收测试

224Gbps电信号产生

224Gbps光电器件测试

224Gbps光口信号测试

224Gbps误码率测试

800G以太网光电接口测试总结

第18章5G承载网光模块测试挑战

5G承载网络的架构变化

5G承载网的带宽需求

5G承载网新型前传技术

5G光模块种类

5G光模块测试方案

常见问题与建议

第19章高速光电器件与硅光测试

高速光电器件的发展

无源光器件测试

有源器件直流参数测试

有源器件高频参数测试

硅光芯片的晶圆测试

器件封装后的系统测试

高速光电测试平台总结

第20章相干光通信简介及测试

相干光通信简介

相干发射机与接收机

相干调制器及ICR测试

相干发射机系统测试

相干接收机系统测试

相干通信的发展方向

 

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